SiC Wafer Chucks ການກວດກາ

Semicorex SiC Wafer Inspection Chucks ແມ່ນການປະຕິວັດການຈັດການ wafer semiconductor ແລະຂະບວນການກວດກາ, ສະເຫນີປະສິດທິພາບແລະຄວາມຫນ້າເຊື່ອຖືທີ່ບໍ່ມີການປຽບທຽບເມື່ອທຽບກັບອຸປະກອນການທໍາມະດາ. ນີ້ແມ່ນເບິ່ງລາຍລະອຽດກ່ຽວກັບຂໍ້ໄດ້ປຽບທີ່ສໍາຄັນຂອງພວກເຂົາ:

1. ປັບປຸງຄວາມທົນທານ ແລະ ອາຍຸຍືນ:

ຄວາມແຂງກະດ້າງພິເສດຂອງ SiC ແລະຄວາມອິດເມື່ອຍທາງເຄມີແປວ່າຄວາມທົນທານແລະອາຍຸຍືນທີ່ເຫນືອກວ່າ. ເຫຼົ່ານີ້ SiC Wafer ກວດກາ Chucks ທົນທານຕໍ່ຄວາມເຄັ່ງຄັດຂອງການຈັດການ wafer ຊ້ໍາຊ້ອນ, ຕ້ານ scratching ແລະ chipping ຈາກການສໍາຜັດກັບແຄມ wafer ທີ່ລະອຽດອ່ອນ, ແລະຮັກສາຄວາມສົມບູນຂອງໂຄງສ້າງຂອງເຂົາເຈົ້າເຖິງແມ່ນວ່າໃນສະພາບແວດລ້ອມທາງເຄມີ harsh ພົບເລື້ອຍໆໃນລະຫວ່າງການປະມວນຜົນ semiconductor. ອາຍຸການຍືດຍາວນີ້ຊ່ວຍຫຼຸດຜ່ອນຄ່າໃຊ້ຈ່າຍໃນການທົດແທນ ແລະຫຼຸດຜ່ອນເວລາຢຸດການຜະລິດ.

2. ຄວາມໝັ້ນຄົງຂອງມິຕິມິຕິທີ່ບໍ່ຍອມແພ້:

ການຮັກສາຕໍາແຫນ່ງ wafer ທີ່ຊັດເຈນແມ່ນສໍາຄັນທີ່ສຸດສໍາລັບການກວດກາທີ່ຖືກຕ້ອງແລະການຜະລິດຜົນຜະລິດສູງ. SiC Wafer Inspection Chucks ສະແດງໃຫ້ເຫັນການຂະຫຍາຍຄວາມຮ້ອນແລະການຫົດຕົວທີ່ບໍ່ມີເຫດຜົນໃນທົ່ວລະດັບອຸນຫະພູມທີ່ກວ້າງຂວາງ, ຮັບປະກັນຄວາມຫມັ້ນຄົງຂອງມິຕິທີ່ສອດຄ່ອງເຖິງແມ່ນວ່າໃນລະຫວ່າງຂະບວນການທີ່ມີອຸນຫະພູມສູງ. ຄວາມຫມັ້ນຄົງນີ້ຮັບປະກັນຜົນໄດ້ຮັບການກວດສອບຊ້ໍາກັນແລະເຊື່ອຖືໄດ້, ປະກອບສ່ວນເຂົ້າໃນການຄວບຄຸມຂະບວນການທີ່ເຄັ່ງຄັດແລະເພີ່ມປະສິດທິພາບຂອງອຸປະກອນ.

3. Ultra-Flatness ແລະ Smoothness ສໍາລັບ Superior Wafer Contact:

SiC Wafer Inspection Chucks ໄດ້ຖືກຜະລິດເພື່ອຄວາມທົນທານທີ່ແຫນ້ນຫນາຢ່າງບໍ່ຫນ້າເຊື່ອ, ການບັນລຸພື້ນຜິວທີ່ຮາບພຽງແລະລຽບທີ່ສໍາຄັນສໍາລັບການຕິດຕໍ່ wafer ທີ່ດີທີ່ສຸດ. ນີ້ຫຼຸດຜ່ອນຄວາມກົດດັນ wafer ແລະການບິດເບືອນໃນລະຫວ່າງການຈັບ, ປ້ອງກັນຂໍ້ບົກພ່ອງທີ່ອາດຈະເກີດຂຶ້ນແລະການສູນເສຍຜົນຜະລິດ. ຍິ່ງໄປກວ່ານັ້ນ, ພື້ນຜິວທີ່ລຽບງ່າຍຫຼຸດຜ່ອນການສ້າງອະນຸພາກແລະການຈັບຕົວ, ຮັບປະກັນສະພາບແວດລ້ອມຂະບວນການທີ່ສະອາດແລະຫຼຸດຜ່ອນຂໍ້ບົກພ່ອງທີ່ຖືກໂອນໄປຫາຫນ້າດິນ wafer.

4. ການຖືສູນຍາກາດທີ່ປອດໄພ ແລະເຊື່ອຖືໄດ້:

SiC Wafer Inspection Chucks ອໍານວຍຄວາມສະດວກໃນການຖື wafers ທີ່ປອດໄພແລະເຊື່ອຖືໄດ້ໃນລະຫວ່າງການກວດກາແລະການປຸງແຕ່ງ. porosity ປະກົດຂຶ້ນຂອງວັດສະດຸສາມາດໄດ້ຮັບການວິສະວະກໍາທີ່ຊັດເຈນເພື່ອສ້າງຊ່ອງສູນຍາກາດທີ່ເປັນເອກະພາບໃນທົ່ວຫນ້າ chuck, ຮັບປະກັນການ planarity wafer ສອດຄ່ອງແລະການຍຶດຫມັ້ນໂດຍບໍ່ມີການ slippage. ການຍຶດຫມັ້ນທີ່ປອດໄພນີ້ແມ່ນສໍາຄັນສໍາລັບການກວດກາແລະການປຸງແຕ່ງທີ່ມີຄວາມແມ່ນຍໍາສູງ, ປ້ອງກັນຄວາມຜິດພາດທີ່ເຮັດໃຫ້ເກີດການເຄື່ອນໄຫວແລະຂໍ້ບົກພ່ອງ.

5. ຫຼຸດຜ່ອນການປົນເປື້ອນອະນຸພາກດ້ານຫຼັງ:

ການປົນເປື້ອນອະນຸພາກດ້ານຫຼັງສ້າງໄພຂົ່ມຂູ່ຕໍ່ຜົນຜະລິດຂອງ wafer ແລະປະສິດທິພາບຂອງອຸປະກອນ. SiC Wafer Inspection Chucks ມັກຈະລວມເອົາການອອກແບບທີ່ຕິດຕໍ່ກັບພື້ນຜິວຕ່ໍາ, ປະກອບດ້ວຍຮູສູນຍາກາດທີ່ວາງຍຸດທະສາດຫຼືຮ່ອງ. ນີ້ຫຼຸດຜ່ອນພື້ນທີ່ຕິດຕໍ່ລະຫວ່າງ chuck ແລະ backside wafer, ຫຼຸດລົງຢ່າງຫຼວງຫຼາຍຄວາມສ່ຽງຂອງການຜະລິດອະນຸພາກແລະການໂອນ.

6. ການອອກແບບທີ່ມີນ້ໍາຫນັກເບົາສໍາລັບການເພີ່ມປະສິດທິພາບການຈັດການແລະການສົ່ງຜ່ານ:

ເຖິງວ່າຈະມີຄວາມແຂງແລະຄວາມເຂັ້ມແຂງພິເສດຂອງພວກເຂົາ, SiC Wafer Inspection Chucks ມີນ້ໍາຫນັກເບົາທີ່ຫນ້າປະຫລາດໃຈ. ມະຫາຊົນທີ່ຫຼຸດລົງນີ້ແປວ່າຂັ້ນຕອນຂອງການເລັ່ງແລະການຊ້າລົງໄວຂຶ້ນ, ເຮັດໃຫ້ດັດສະນີ wafer ໄວຂຶ້ນແລະປັບປຸງການສົ່ງຕໍ່ໂດຍລວມ. chucks ທີ່ມີນ້ໍາຫນັກເບົາຍັງຫຼຸດຜ່ອນການສວມໃສ່ແລະ tear ໃນລະບົບການຈັດການຫຸ່ນຍົນ, ຫຼຸດຜ່ອນຄວາມຕ້ອງການບໍາລຸງຮັກສາເພີ່ມເຕີມ.

7. ການຕໍ່ຕ້ານການສວມໃສ່ຢ່າງຮ້າຍແຮງສໍາລັບຊີວິດການດໍາເນີນງານທີ່ຂະຫຍາຍອອກ:

ຄວາມແຂງກະດ້າງພິເສດແລະການຕໍ່ຕ້ານການສວມໃສ່ຂອງ SiC ຮັບປະກັນຊີວິດການດໍາເນີນງານທີ່ຍາວນານສໍາລັບອົງປະກອບທີ່ສໍາຄັນເຫຼົ່ານີ້. ພວກເຂົາເຈົ້າຕ້ານການຂັດຈາກການຕິດຕໍ່ wafer ຊ້ໍາຊ້ອນແລະທົນທານຕໍ່ສານເຄມີທໍາຄວາມສະອາດ harsh, ຮັກສາຄວາມສົມບູນຂອງຫນ້າດິນຂອງເຂົາເຈົ້າແລະປະສິດທິພາບໃນໄລຍະການຂະຫຍາຍ. ອາຍຸຍືນນີ້ຫມາຍຄວາມວ່າການຫຼຸດຜ່ອນການບໍາລຸງຮັກສາ, ຄ່າໃຊ້ຈ່າຍຕ່ໍາຂອງການເປັນເຈົ້າຂອງ, ແລະເພີ່ມຜົນຜະລິດໂດຍລວມ.